Peter J. de Groot

Παρατίθεται από

	Όλα	Από το 2019
Παραθέσεις	12879	3128
h-index	57	26
i10-index	212	81

940

470

235

705

1993199419951996199719981999200020012002200320042005200620072008200920102011201220132014201520162017201820192020202120222023202440 37 56 62 73 131 126 133 161 144 229 355 339 434 570 715 675 461 922 650 497 554 580 528 587 541 638 580 606 602 541 161

Δημόσια πρόσβαση

Προβολή όλων

10 άρθρα

0 άρθρα

διαθέσιμα

μη διαθέσιμα

Σύμφωνα με εντολές χρηματοδότησης

Συν-συγγραφείς

Xavier Colonna de LegaZygo CorporationΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα zygo.com
Richard LeachUniversity of NottinghamΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα nottingham.ac.uk
Rong SuSenior Researcher, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CASΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα siom.ac.cn
Mark DavidsonSpectel Research Corp.Η διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα spectelresearch.com
Han HaitjemaKU LeuvenΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα kuleuven.be
Jack DiSciaccaZygo CorporationΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα ametek.com
Jeremy CouplandProfessor of Applied Optics, Loughborough UniversityΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα lboro.ac.uk
Carlos GomezUniversity of NottinghamΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα nottingham.ac.uk
Chandrasekhar or Chandra Roychoud...Reserach Professor, Physics Deaprtment, University of ConnecticutΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα uconn.edu
Adam ThompsonAssistant Professor, University of NottinghamΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα nottingham.ac.uk
Jay DawsonLawrence Livermore National LaboratoryΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα llnl.gov
Gerd HäuslerRetired professor, Institute of Optics, University of ErlangenΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα fau.de

Παρακολούθηση

Peter J. de Groot

Zygo Corporation

Η διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα zygo.com

Optical metrology interferometry


Τίτλος Ταξινόμηση με βάση τις αναφορές Ταξινόμηση κατά έτος Ταξινόμηση κατά τίτλο	Παρατίθεται από Παρατίθεται από	Έτος
Surface profiling by analysis of white-light interferograms in the spatial frequency domain P De Groot, L Deck Journal of modern optics 42 (2), 389-401, 1995	599	1995
High-speed noncontact profiler based on scanning white-light interferometry L Deck, P De Groot Applied optics 33 (31), 7334-7338, 1994	560	1994
Three-dimensional imaging by sub-Nyquist sampling of white-light interferograms P de Groot, L Deck Optics letters 18 (17), 1462-1464, 1993	420	1993
Principles of interference microscopy for the measurement of surface topography P De Groot Advances in Optics and Photonics 7 (1), 1-65, 2015	398	2015
Derivation of algorithms for phase-shifting interferometry using the concept of a data-sampling window P De Groot Applied optics 34 (22), 4723-4730, 1995	371	1995
Determination of fringe order in white-light interference microscopy P de Groot, XC de Lega, J Kramer, M Turzhitsky Applied optics 41 (22), 4571-4578, 2002	302	2002
Ranging and velocimetry signal generation in a backscatter-modulated laser diode PJ de Groot, GM Gallatin, SH Macomber Applied optics 27 (21), 4475-4480, 1988	301	1988
Measurement of transparent plates with wavelength-tuned phase-shifting interferometry P De Groot Applied optics 39 (16), 2658-2663, 2000	269	2000
Vibration in phase-shifting interferometry PJ De Groot JOSA A 12 (2), 354-365, 1995	265	1995
Method and system for profiling objects having multiple reflective surfaces using wavelength-tuning phase-shifting interferometry P de Groot US Patent 6,359,692, 2002	233	2002
Signal modeling for low-coherence height-scanning interference microscopy P de Groot, XC de Lega Applied optics 43 (25), 4821-4830, 2004	231	2004
Method and apparatus for surface topography measurement by spatial-frequency analysis of interferograms P De Groot US Patent 5,398,113, 1995	209	1995
Coherence scanning interferometry P de Groot Optical measurement of surface topography, 187-208, 2011	198*	2011
Profiling complex surface structures using scanning interferometry PJ De Groot, R Stoner, XC De Lega US Patent 7,271,918, 2007	185	2007
Interferometry method and system including spectral decomposition XC De Lega, P De Groot US Patent 7,636,168, 2009	169	2009
Infrared scanning interferometry apparatus and method XC De Lega, P De Groot, LL Deck US Patent 6,195,168, 2001	131	2001
Extending the unambiguous range of two-color interferometers PJ De Groot Applied optics 33 (25), 5948-5953, 1994	123	1994
Interferometric optical systems having simultaneously scanned optical path length and focus PJ De Groot, XC De Lega, S Balasubramaniam US Patent 7,012,700, 2006	121	2006
Interpreting interferometric height measurements using the instrument transfer function P de Groot, XC de Lega Fringe 2005: The 5th International Workshop on Automatic Processing of …, 2006	120	2006
Interferometry method for ellipsometry, reflectometry, and scatterometry measurements, including characterization of thin film structures PJ De Groot US Patent 7,139,081, 2006	113	2006

Δεν είναι δυνατή η εκτέλεση της ενέργειας από το σύστημα αυτή τη στιγμή. Προσπαθήστε ξανά αργότερα.

Άρθρα 1–20

Παραθέσεις ανά έτος

Διπλότυπες αναφορές

Συγχωνευμένες αναφορές

Προσθήκη από κοινού συγγραφέωνΣυν-συγγραφείς

Παρακολούθηση

Παρατίθεται από

Συν-συγγραφείς